Ultramicroscopy(超显微镜杂志)是由Elsevier出版社主办的一本以工程技术-MICROSCOPY为研究方向,OA非开放(Not Open Access)的国际优秀期刊。旨在帮助发展和壮大工程技术及相关学科的各个方面。该期刊接受多种不同类型的文章。本刊出版语言为English,创刊于1975年。自创刊以来,已被SCIE(科学引文索引扩展板)等国内外知名检索系统收录。该杂志发表了高质量的论文,重点介绍了MICROSCOPY在分析和实践中的理论、研究和应用。
ISSN:0304-3991
E-ISSN:1879-2723
出版商:Elsevier
出版语言:English
出版地区:NETHERLANDS
出版周期:Monthly
是否OA:未开放
是否预警:否
创刊时间:1975
年发文量:143
影响因子:2.1
研究类文章占比:100.00%
Gold OA文章占比:44.42%
H-index:109
出版国人文章占比:0.1
出版撤稿文章占比:
开源占比:0.24...
文章自引率:0.1363...
《Ultramicroscopy》是一份国际优秀期刊,为工程技术领域的研究人员和从业者提供科学论坛。该期刊涵盖了工程技术及相关学科的所有方面,包括基础和应用研究,使读者能够获得来自世界各地的最新、前沿的研究。该期刊欢迎涉及工程技术领域的原创理论、方法、技术和重要应用的稿件,并刊载了涉及工程技术领域的相关栏目:综述、论著、述评、论著摘要等。所有投稿都有望达到高标准的科学严谨性,并为推进该领域的科研知识传播做出贡献。该期刊最新CiteScore值为4.6,最新影响因子为2.1,SJR指数为0.78,SNIP指数为0.802。
CiteScore指标的应用非常广泛,以期刊的引用次数为基础评估期刊的影响力。它可以反映期刊的学术影响力和学术水平,是学术界常用的期刊评价指标之一。
CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 排名 | ||||||||||||||||
4.6 | 0.78 | 0.802 |
|
CiteScore是由Elsevier公司开发的一种用于衡量科学期刊影响力的指标,以期刊的引用次数为基础评估期刊的影响力。这个指标是由Scopus数据库支持,以四年为一个时段,连续评估期刊和丛书的引文影响力的。具体来说,CiteScore是计算某期刊连续三年发表的论文在第四年度的篇均引用次数。CiteScore和影响因子(IF)有所不同。例如,在影响因子的计算中,分子是来自所有文章的引用次数,包括编辑述评、读者来信、更正信息和新闻等非研究性文章,而分母则不包括这些非研究性文章。然而,在CiteScore的计算中,分子和分母都包括这些非研究性文章。因此,如果这些非研究性文章比较多,由于分母较大,相较于影响因子,CiteScore计算出来的分数可能会偏低。此外,CiteScore的引用数据来自Scopus数据库中的22000多个期刊,比影响因子来自Web of Science数据库的11000多个期刊多了一倍。
按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:MICROSCOPY | SCIE | Q2 | 3 / 8 |
68.8% |
按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:MICROSCOPY | SCIE | Q1 | 2 / 8 |
81.25% |
WOS(JCR)分区是由科睿唯安公司提出的一种新的期刊评价指标,分区越靠前一般代表期刊质量越好,发文难度也越高。这种分级体系有助于科研人员快速了解各个期刊的影响力和地位。JCR将所有期刊按照各个学科领域进行分类,然后以影响因子为标准平均分为四个等级:Q1、Q2、Q3和Q4区。这种设计使得科研人员可以更容易地进行跨学科比较。
中科院SCI期刊分区是由中国科学院国家科学图书馆制定的。将所有的期刊按照学科进行分类,以影响因子为标准平均分为四个等级。分区越靠前一般代表期刊质量越好,发文难度也越高。
2023年12月升级版
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 |
否 | 否 | 工程技术 3区 |
MICROSCOPY
显微镜技术
2区
|
2022年12月升级版
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 |
否 | 否 | 工程技术 3区 |
MICROSCOPY
显微镜技术
1区
|
2021年12月旧的升级版
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 |
是 | 否 | 工程技术 3区 |
MICROSCOPY
显微镜技术
1区
|
2021年12月基础版
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 |
否 | 否 | 工程技术 3区 |
MICROSCOPY
显微镜技术
3区
|
2021年12月升级版
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 |
是 | 否 | 工程技术 3区 |
MICROSCOPY
显微镜技术
1区
|
2020年12月旧的升级版
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 |
是 | 否 | 工程技术 3区 |
MICROSCOPY
显微镜技术
1区
|
Ultramicroscopy(中文译名超显微镜杂志)是一本专注于工程技术,显微镜技术领域的国际期刊,致力于为全球MICROSCOPY领域的研究者提供一个高质量的学术交流平台。该期刊ISSN:0304-3991,E-ISSN:1879-2723,出版周期Monthly。在中科院的大类学科分类中,该期刊属于工程技术范畴,而在小类学科中,它主要涵盖了MICROSCOPY这一领域。编辑部诚挚邀请广大工程技术领域的专家学者投稿,内容可以涵盖工程技术的综合研究、实践应用、创新成果等方面。同时,我们也欢迎学者们就相关主题进行简短的交流和评论,以促进学术界的互动与合作。为了保证期刊的质量,审稿周期预计为 约3.0个月 约17.8周。在此期间,编辑部将对所有投稿进行严格的同行评审,以确保发表的文章具有较高的学术价值和实用性。
值得一提的是,Ultramicroscopy近期并未被列入国际期刊预警名单,这意味着其学术质量和影响力得到了广泛认可。该期刊为工程技术领域的学者提供了一个优质的学术交流平台。因此,关注并投稿至Ultramicroscopy无疑是一个明智的选择,这将有助于提升您的学术声誉和研究成果的传播。
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投稿咨询机构 | 发文量 |
UNITED STATES DEPARTMENT OF ENERGY (DOE) | 42 |
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQ... | 36 |
HELMHOLTZ ASSOCIATION | 34 |
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 23 |
UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM | 21 |
MAX PLANCK SOCIETY | 20 |
NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS & TECHNOLO... | 14 |
UNIVERSITY OF ANTWERP | 14 |
IMEC | 12 |
UNIVERSITY OF OXFORD | 12 |
国家 / 地区 | 发文量 |
USA | 149 |
GERMANY (FED REP GER) | 112 |
CHINA MAINLAND | 82 |
France | 54 |
England | 51 |
Japan | 45 |
Netherlands | 34 |
Belgium | 26 |
Canada | 24 |
Australia | 20 |
期刊引用数据 | 引用次数 |
ULTRAMICROSCOPY | 965 |
APPL PHYS LETT | 274 |
PHYS REV LETT | 230 |
PHYS REV B | 219 |
MICROSC MICROANAL | 202 |
J APPL PHYS | 194 |
REV SCI INSTRUM | 136 |
NATURE | 128 |
J MICROSC-OXFORD | 109 |
NANO LETT | 103 |
期刊被引用数据 | 引用次数 |
ULTRAMICROSCOPY | 965 |
MICROSC MICROANAL | 309 |
MICRON | 238 |
ACTA MATER | 180 |
SCI REP-UK | 165 |
J APPL PHYS | 135 |
PHYS REV B | 130 |
MATER CHARACT | 126 |
NANO LETT | 116 |
NANOSCALE | 94 |
文章引用数据 | 引用次数 |
Dr. Probe: A software for high-resolution ... | 36 |
Progress in ultrahigh energy resolution EE... | 18 |
Robust workflow and instrumentation for cr... | 16 |
Theory of the spatial resolution of (scann... | 14 |
A hybrid genetic-Levenberg Marquardt algor... | 13 |
Demonstration of a 2 x 2 programmable phas... | 13 |
The energy dependence of contrast and dama... | 13 |
Development of a high brightness ultrafast... | 12 |
Picometer-scale atom position analysis in ... | 11 |
A deep convolutional neural network to ana... | 11 |
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